產品樣本應用文章
零件淬火后總是會多多少少的留出一些未轉換的殘余奧氏體。太多的殘余奧氏體對零件的使用期限和強度不好，會導致軟點和規格的多變性，但適當的殘余奧氏體能夠提升零件的疲勞強度。我們可以經過控制殘余奧氏體來控制產品品質和使用期限，以做到預期目標。 1. 殘余奧氏體對各種零件的影響 （1）滾動軸承規定有優良的耐磨性能、高的翻轉疲勞強度合好的外形尺寸精密度可靠性，在常見應力水準下殘余奧氏體對疲憊使用壽命影響并不大。具體制造中45號鋼淬火后，一般不歷經冷處理。 （2）傳動齒輪一般都不需冷處理。殘余奧氏體有益于其疲倦使用壽命的提升。 （3）對工具鋼，殘余奧氏體可提升抗沖擊性。針對切削刀具，殘余奧氏體減少強度使加工性受到影響。對鉆頭、銑刀等關鍵承擔扭曲應力的專用工具，適當的殘余奧氏體是有益的。對工作壓力生產的模具鋼，特別是在沖針適當的殘余奧氏體是有利的。殘余奧氏體相對性于馬氏體而言，殘余奧氏體似海棉，可緩存沖擊性，提升延展性，提升表層觸碰疲勞強度，增加沖針使用期限。 （4）對測量儀器，殘余奧氏體不利確保規格精密度，務必用冷處理盡量地清除殘余奧氏體。 2. 殘余奧氏體影響各種因素 伴隨著鋁合金因素的提升 ，碳含量的提升，淬火正中間滯留或制冷速率遲緩，淬火溫度提升，都是會使殘余奧氏體提升。淬火時制冷終斷并等溫過程滯留，會使馬氏體最后變化量少，殘余奧氏體增加，這就是奧氏體的熱防老化。碳含量在過共析鋼點0.8上下，殘余奧氏體在25%下列，殘余應力為壓應力。零件滲碳后表層碳含量高，淬火后殘余奧氏體增加。 決策殘余奧氏體成分的首要要素分別是： （1）原料鋁合金因素的影響：Mn、Ni、Cr鋁合金元素使淬火后殘余奧氏體提升。 （2）原料碳成分提升，使殘余奧氏體提升。 （3）熱處理方法上，奧氏體化溫度提升，淬火溫度提升，淬火終止溫度提升，淬火制冷速率變弱，淬火正中間滯留，都是會使殘余奧氏體提升。在零件原材料明確的根基上，熱處理工藝適度減少淬火溫度，提升冷處理（持續淬火）等全是降低殘余奧氏體的合理對策。零件經淬火冷處理回火后殘余奧氏體均≤10%，GCr1545號鋼一般在5%上下。
樣品材料的非晶、準晶和晶體三者的結構在XRD圖譜上并無嚴格明晰的分界。 在X射線衍射儀獲得的XRD圖譜上，如果樣品是較好的"晶態"物質，圖譜的特征是有若干或許多個一般是彼此獨立的很窄的"尖峰"（其半高度處的2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實驗條件決定的晶體衍射峰的"小寬度"）。如果這些"峰"明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱之為"微晶"。 晶體的X射線衍射理論中有一個Scherrer公式：可以根據譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。 非晶質衍射圖的特征是：在整個掃描角度范圍內（從2θ 1°~2°開始到幾十度）只觀察到被散射的X射線強度的平緩的變化，其間可能有一到幾個大值；開始處因為接近直射光束強度較大，隨著角度的增加強度迅速下降，到高角度強度慢慢地趨向儀器的本底值。 從Scherrer公式的觀點看，這個現象可以視為由于晶粒極限地細小下去而導致晶體的衍射峰極大地寬化、相互重疊而模糊化的結果。晶粒細碎化的極限就是只剩下原子或離子這些粒子間的"近程有序"了，這就是我們所設想的"非晶質"微觀結構的場景。非晶質衍射圖上的一個大值相對應的是該非晶質中一種常發生的粒子間距離。 介于這兩種典型之間而偏一些"非晶質"的過渡情況便是"準晶"態。
殘余應力對工件有很大的危害，會使工件發生變形甚至是斷裂，而工件一旦發生變形就會對使用精度造成影響，所以消除殘余應力顯得尤為重要。 縱觀全球相關領域，消除殘余應力的方法大約有四種： 第一種是自然時效，通過自然放置消除殘余應力，這種方法耗時過長，難以適應現代科技及生產需要； 第二種是傳統的方法——熱時效法，把工件放進熱時效爐中進行熱處理，慢慢消除殘余應力。但這種方法的缺點也非常的顯著，對要求非常嚴格的工件或者是大型工件都無法用這種方法處理，而且這種方法還帶來了大量的污染和能源消耗，隨著中國及世界范圍內對環保的進一步要求，熱時效爐的處理方式馬上面臨全面退出的境地。 第三種是利用亞共振來消除殘余應力，這種方法雖然解決了熱時效的環保問題，但是使用起來相當繁瑣。更令人遺憾的是這種方法只能消除23%的工件應力，無法達到處理所有工件的目的。 第四種是振動時效消除殘余應力，是通過機械組裝使之形成了一整套消除應力設備，它可以使工件在短時間內達到消除應力的作用，覆蓋所有需要消除應力的工件。用頻譜分析優選五個頻率以多振型的處理方法達到消除工件應力的目的，所有形狀大小的工件都可以使用這種設備完成，將激振器夾在工件上進行振動就可以達到消除應力的效果。 以上就是消除殘余應力方法介紹，如果您有殘余應力的分析需求或其他應用問題，歡迎咨詢利曼中國。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線誕生于1966年，經過半個多世紀的技術開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。 STRESS-X的衍射單元安裝在6自由度機械臂上，可方便對各種形狀和尺寸的樣品進行檢測，同時配有非接觸自動激光準直系統提高定位精度，整個測試系統可封裝在艙體中或安裝在四輪合金推車上用于現場分析；EDGE的特點則為小巧便攜、不受電源線束縛，另可擴展完成殘余奧氏體和相位檢測。兩款儀器均符合ASTM E915及EN 15305國際標準，
1. 降低殘留奧氏體對策 一般熱處理工藝淬火后開展馬氏體變化，與此同時難以避免還會發生殘留奧氏體。要清除或控制殘留奧氏體，關鍵有下列幾類方式 ： （1）提升冷處理。冷處理是淬火得持續其本質是減少制冷終止溫度，使殘留奧氏體進一步轉換為馬氏體。這在GCr15的柱塞偶件中普遍應用，是促進殘留奧氏體變化的有效的方式 。一般殘留奧氏體控制在10%之內。 （2）用馬氏體淬火替代馬氏體淬火，即提升淬火終止溫度，一般在Ms點周邊等溫過程，使反應轉化成金相組織和滲碳體產生的纖維狀下馬氏體的類均衡機構，因不開展馬氏體變化，而降低殘留奧氏體。 （3）熱處理方法主要參數調節：①高碳鋼滲碳時控制碳勢，控制表層碳成分，控制氮碳化學物質及滲碳體等級，進而控制殘留奧氏體。②減少奧氏體化淬火溫度，淬火后馬上回火，也可降低殘留奧氏體的成分。③提升回火溫度。可讓鋼中殘留奧氏體變化為馬氏體或溶解，進而降低殘留奧氏體。小于200℃回火，鋼中殘留奧氏體不溶解。歷經200～300℃回火，鋼中殘留奧氏體逐漸轉化為下馬氏體。高過300℃回火，鋼中殘留奧氏體徹底溶解。在高速鋼560℃回火制冷時一部分殘留奧氏體產生馬氏體變化，提高硬度，降低殘留奧氏體。 （4）碳氮共滲時，氨氣及碳氮化合物造成 殘留奧氏體增加。選用滲碳+淬火加工工藝替代碳氮共滲淬火，歷經冷處理后可使在500倍高倍放大鏡下人眼觀測不上，殘留奧氏體基本上低于10%或5%。 2. 生產制造應用 在實際生產制造中，應用于CB18、CPN2.2-0401挺圓柱體、滾軸軸套滲淬后殘留奧氏體的控制。根據控制氛圍，氨氣進入量由40～80L/h,調節至20L/h；丙烷控制在200L/h，控制降低表層氮碳化學物質及滲碳體。減少淬火溫度：由850℃調節至820～830℃，提升冷處理，回火溫度由180℃提升到200℃等一系列加工工藝主要參數調節對策，使結果大幅改進，控制殘留奧氏體低于10%，做到技術標準。
大米是我們日常生活中最常見的主食主要糧食。隨著工業化、城市化的發展，城市及郊區的土壤成為重金屬的主要累積場所，土壤中的重金屬可通過“土壤－植物－人”的途徑進入人體，對人體健康產生潛在威脅。如砷(As)、鎘(Cd)可引發人類癌癥，已引起社會廣泛關注�！禛B 2762 食品安全國家標準 食品中污染物限量》對大米中重金屬元素做出了嚴格的限量要求。 檢測手段包括ICP-MS、AAS、AFS等。其中， AFS、AAS一次只能測定一種元素，檢測多個元素多采用 ICP-OES或 ICP-MS法。但二者有著較為嚴重的基體、光譜及質譜干擾。因此，找到一種可兼顧檢測效率、干擾小的檢測方法顯得尤為重要。 本文使用Horizon全反射熒光光譜儀，對大米標樣中的K、Ca、Mn、Fe、Cu、Zn、As進行檢測，通過常規微波消解及懸濁分散法兩種前處理方法對比，結果無明顯差異。
做XRD有什么用途，能看出其純度？還是能看出其中含有某種官能團？ X射線照射到物質上將產生散射。晶態物質對X射線產生的相干散射表現為衍射現象，即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象，這是晶態物質特有的現象。 絕大多數固態物質都是晶態或微晶態或準晶態物質，都能產生X射線衍射。晶體微觀結構的特征是具有周期性的長程的有序結構。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結構立體場景的一種物理變換，包含了晶體結構的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 X射線衍射（XRD）是目前研究晶體結構（如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等）有力的方法。 XRD特別適用于晶態物質的物相分析。晶態物質組成元素或基團如不相同或其結構有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現出差異。因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態物質的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數據的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構）等等，應用面十分普遍、廣泛。 目前XRD主要適用于無機物，對于有機物應用相對較少。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線誕生于1966年，經過半個多世紀的技術開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。 可用于桌面的臺式衍射儀ERUOPE、性價比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業衛生中游離二氧化硅的檢測。
提到X射線，大家首先想到的就是輻射安全問題，是否有可能對人身造成傷害。 X射線是電離輻射，對人體是有損傷的，接觸射線的時間越長，距離越近致病的危險性就越大，例如拍胸片、透視或者做CT等等。如果長時間的接觸X射線，因為X射線的輻射劑量可以在身體內累積，所以就會大量破壞人體的白細胞，使人體血液中的白細胞數量減少，進而導致機體免疫功能下降，使病原微生物容易侵入機體而發生疾病。 因此X射線類設備的安全問題尤為重要。GNR的殘余應力分析儀裝有安全連鎖裝置，在射線及快門打開的情況下，艙門是無法打開的，如果強行打開設備會立刻斷電，保護使用人員的安全。另外儀器的輻射劑量經過歐盟的認證，遠低于國內輻射劑量標準，讓使用人員免除后顧之憂。 從輻射安全許可中可以看到，在射線出口10cm處，任何位置的輻射不超過88μSv/h，在射線出口處50cm，任何位置的輻射不超過3μSv/h，在射線出口處100cm，任何位置的輻射不超過0.5μSv/h. 我國標準要求全年的輻射劑量要低于50mSv，也就是說即使儀器全年都在使用，累計輻射劑量也才4.38mSv，要低于國標10倍以上，所以GNR殘余應力分析儀在輻射安全方面是完全有所保證的。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線誕生于1966年，經過半個多世紀的技術開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。 STRESS-X殘余應力分析儀能夠對任何尺寸和形狀的樣品進行無損分析殘余應力檢測，這要歸功于其衍射單元安裝在6軸機械臂上。STRESS-X單元包括通過X射線衍射進行殘余應力或殘余奧氏體測量所需的所有條件。 在標準版本中，機械臂和相關附件安裝在堅固的鋼制手推車上，該手推車裝有所有控制電子設備，用于管冷卻的水冷卻器和個人計算機等。STRESS-X可以在距機械臂中心895 mm的距離下測量位于平臺上的樣品或將機械臂移出平臺來檢測大型樣品。
1. 加熱溫度 隨加熱溫度的提高，原子擴散速率急劇加快，使得奧氏體化速度大大增加，形成所需時間縮短。 2. 加熱速度 加熱速度越快，孕育期縮短，奧氏體開始轉變的溫度和轉變終了的溫度越高，轉變終了所需的時間越短。 3. 合金元素及鋼的化學成分 在一定的含碳量范圍內，奧氏體中碳含量增高，晶粒長大傾向增大。C%高，C在奧氏體中的擴散速度以及Fe的自擴散速度均增加，奧氏體晶粒長大傾向增加，但C%超過一定量時，由于形成Fe3CII，阻礙奧氏體晶粒長大。 鋼中加入鈦、釩、鈮、鋯、鋁等元素，有利于得到本質細晶粒鋼，因為碳化物、氧化物和氮化物彌散分布在晶界上，能阻礙晶粒長大。 錳和磷促進晶粒長大。強碳化物形成元素Ti、Zr、V、W、Nb等熔點較高，它們彌散分布在奧氏體中阻礙奧氏體晶粒長大；非碳化物形成元素Si、Ni等對奧氏體晶粒長大影響很小。 鈷、鎳等加快奧氏體化過程； 鉻、鉬、釩等減慢奧氏體化過程； 硅、鋁、錳等不影響奧氏體化過程。 由于合金元素的擴散速度比碳慢得多，所以合金鋼的熱處理加熱溫度一般較高，保溫時間更長。 4. 原始組織 原始組織中滲碳體為片狀時奧氏體形成速度快，且滲碳體間距越小，轉變速度越快，同時奧氏體晶粒中碳濃度梯度也大，所以長大速度更快。球化退火態的粒狀珠光體，其相界面較少，因此奧氏體化慢。 影響奧氏體晶粒長大的因素： a. 加熱溫度和保溫時間 由于奧氏體晶粒長大與原子擴散有密切關系，所以隨著溫度愈高，或在一定溫度下，保溫時間越長，奧氏體晶粒也越粗大。 b. 加熱速度加熱溫度相同時，加熱速度越快，過熱度越大，奧氏體的實際形成溫度越高，形核率的增加大于長大速度，使奧氏體晶粒越細小。生產上常采用快速加熱短時保溫工藝來獲得超細化晶粒。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線誕生于1966年，經過半個多世紀的開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無需依靠 搭載模塊在常規XRD上 實現殘余奧氏體測試，具有操作簡便、檢測速度快、數據準確等特點，對操作人員要求不高，做到輕松上手。
全反射X射線熒光(TXRF)具有優異的檢出限（低至ppt或pg），與其它具有類似元素檢出限的檢測手段相比，具有基體效應小、樣品需求量小、操作相對簡單、運行成本低等優勢。 TXRF一次可以對70多種元素進行同時分析，這是原子吸收ETAAS和FAAS方法難以完成的。與質譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析NAA等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡便、經濟、多元素同時分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優勢。同時，TXRF多采用內標法，無需特定標準樣品，儀器不需要額外冷卻設備，通常無需使用保護氣等輔助分析。因此，TXRF所分析的樣品較為廣泛。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線誕生于1966年，經過半個多世紀的開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。 X射線衍射儀（XRD）可測試粉末、薄膜等樣品的晶體結構等指標，多應用于分子結構分析及金屬相變研究；而全反射X熒光光譜儀（TXRF）的檢測限已達到皮克級別，其非破壞性分析特點應用在痕量元素分析中，涉及環境、醫藥、半導體、核工業、石油化工等行業；為迎合工業市場需求而設計制造的專用殘余應力分析儀、殘余奧氏體分析儀，近年來被廣泛應用在高端材料檢測領域，其操作的便捷性頗受行業青睞。
游離二氧化硅指巖石或礦物中沒有同金屬或金屬氧化物結合的二氧化硅（α-石英硅）。 含有游離二氧化硅的粉塵進入人體肺內后，在二氧化硅的毒作用下，引起肺巨噬細胞解壞死度、導致肺組織纖維化，形成膠原纖維結節，使肺組織彈性喪失，硬度增大，造成通氣障礙，影響肺的呼吸活動，即人吸入游離二氧化硅的粉塵可引起矽肺。矽肺是塵肺中進展快、危害重的一種。粉塵中含有游離二氧化硅的量越高，對人體危害越大。我國關于矽塵的衛生標準在評價粉塵危害時，明確規定要檢測游離二氧化硅的含量。如GBZ/T192.4-2007《工作場所空氣中粉塵測定第4部分：游離二氧化硅含量》確規定了要檢測游離二氧化硅的含量。 目前我國制定的礦塵中游離二氧化硅含量的測定方法主要有以下三種：(1) 物理的X光衍射法。(2) 紅外光譜分析法。 (3) 化學的焦磷酸質量法。這三種方法中，焦磷酸質量法由于實驗周期長，步驟繁鎖，對操作人員要求也較高，難以實驗快速檢測；紅外光譜法由于只能檢測α-型游離二氧化硅，且操作過程中難以混勻，不適合多類型的樣品檢測。X射線衍射方法分析速度快，能分析多種不同類型的樣品，儀器操作相對簡單，在游離二氧化硅檢測中運用越來越廣泛。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產商，其X射線產品線誕生于1966年，經過半個多世紀的技術開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。 可用于桌面的臺式衍射儀ERUOPE、性價比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業衛生中游離二氧化硅的檢測。
