推拉力测试机采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术，测试传感器采用自动量程设计，分辨率高达达0.0001克。凯发k8国际推拉力测试机（多功能剪切力测试仪）是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确、适用面广、测试精度高，适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、 PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。

设备特点

1.所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统，确保测试数据的准确无误。

2.采用公司独特研发的高分辨率(24 BitPlus超(高)分辨率)的数据采集系统。

3.采用公司的安全限位及安全限速技术，让操作得心应手。

4.采用公司的智能灯光控制与调节系统，减少光源对视力的损伤。

5.标配高清观察显微镜，减少人员视觉疲劳。

6.双摇杆四向操作及人性化的软件配置使操作简单、方便。

7.结合人体学的独特设计，让使用更加舒适。

8.设备全方位的保护措施，避免因人员误操作对设备的损坏。

9.很具实力的研发能力，可根据客户的需求提供订制化产品。

10.贴心的售(后)服务，让使用人员无后顾之忧。

测试原理：

推力测试：

手动：通过左右摇杆将测试头移动至所测试产品后上方，按测试后，Z轴自动向下移动，当测试针头触至测试基板表面后，Z向触信号启动，停止下降，Z轴向上升至设定的剪切高度后停止。Y轴按软件设定参数移动，在移动过程中Y轴以一段快速运行，当Y轴在移动过程中感应到设定触发力值时（即开始测试产品），速度会自动调整为二段慢速测试，以保证测试资料的稳定性。

自动：输入测试坐标可自动测试：

拉力测试：手动: 通过左右摇杆将拉针移动至线弧中间，按测试后，Z轴自动向上移动，当拉针触至设定触发力值时（即开始测试产品），速度会自动调整为二段慢速测试，以保证测试资料的稳定性。

自动：输入测试坐标可自动测试：

测试功能：测试工位元软件选择后，设备自动旋转至需要测试工位元，无需手动更换测试模块。

测试模块范围：

推力测试-金球/晶片	测试范围	拉力测试-焊线	测试范围
BS250G	25g、50g、100g、250g	WP25G	2.5g、5g、10g、25g
BS1KG	100g、250g、500g、1kg	WP50G	5g、10g、25g、50g
DS5KG	500g、1kg、2.5kg、5kg	WP100G	10g、25g、50g、100g
DS10KG	2.5kg、5kg、7.5kg、10kg	WP200G	25g、50g、100g、200g
DS20KG	2kg、4kg、10kg、20kg	WP1KG	100g、250g、500g、1kg
DS50KG	10kg、20kg、40kg、50kg	WP5KG	500g、1.25kg、2.5kg、5kg
DS100KG	10kg、20kg、50kg、100kg	WP10KG	1kg、2.5kg、5kg、10kg
DS200KG	20kg、40kg、100kg、200kg	WP20KG	2.5kg、5kg、10kg、20kg
压力测试	测试范围	镊拉力测试	测试范围
PP100G	10g、25g、50g、100g	TP100G	10g、25g、50g、100g
PP5KG	500g、1.25kg、2.5kg、5kg	TP1KG	100g、250g、500g、1kg
PP50KG	5kg、10kg、25kg、50kg	TP5KG	500g、1.25kg、2.5kg、5kg
可根据客户需求，定制不同量程测试模块